安立知为光谱分析仪增强高功率雷射二极体测量功能

安立知(Anritsu)为其光谱分析仪MS9740B推出新的测量功能(MS9740B-020)，使用脉冲模式评估雷射二极体(Laser Diode, LD)晶片。此全新解决方案缩短了高功率LD晶片的测试时间，有助於提升其生产效率。

高功率LD晶片的市场需求来自於更高的通讯位元速率以及更广的光达(LiDAR)侦测范围。此外，因应共同封装光学应用的外部雷射小型可插拔(ELSFP)模组等新用例预计也会加速上述需求。

高功率LD晶片的连续波(CW)输出会因晶片温度升高而出现功率漂移和波长偏移的问题，使用脉冲模式驱动晶片可抑制温度升高，并有助於避免这种情况发生。然而，目前在生产过程中进行LD晶片的脉冲测试需要较长的时间，因为它还需要外部触发讯号才能与LD晶片的脉冲频率同步。

新型MS9740B-020解决方案能够减少LD晶片脉冲测试的生产时间(Tact Time)，无须外部触发讯号，加快了光谱评估的速度。此外，也可确保高功率LD晶片的测量再现性，并确保旁模抑制比(SMSR)的测量再现性为±1.4dB(安装MS9740B-020时为±1.8dB)，较低的SMSR变化可提高LD晶片的良率，协助提高生产效率。